您的位置: 标准下载 » 协会标准 » IEC 国际电工委员会 »

IEC 61300-3-28-2012 光纤互连设备和无源元件.基本试验和测量程序.第3-28部分:检验和测量.瞬时损耗

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 11:34:00  浏览:8364   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestandmeasurementprocedures-Part3-28:Examinationsandmeasurements-Transientloss
【原文标准名称】:光纤互连设备和无源元件.基本试验和测量程序.第3-28部分:检验和测量.瞬时损耗
【标准号】:IEC61300-3-28-2012
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2012-03-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC86B
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Attenuations;Bouncetime;Cables;Changingofattenuation;Checkgauge;Components;Connectiontechnology;Electricalengineering;Fasteners;Glassfibrecables;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Operatingtime;Opticalwaveguides;Plugs;Stress;Testing;Transientloss
【摘要】:
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:33_180_20
【页数】:30P.;A4
【正文语种】:英语


下载地址: 点击此处下载
基本信息
标准名称:电子器件详细规范 半导体集成电路CW574CS电子调谐器用稳压器
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
替代情况:调整为SJ/T 10991-1996
发布日期:1900-01-01
实施日期:1989-03-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:12页
适用范围

没有内容

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
MIL-STD-252B, MILITARY STANDARD: WIRED EQUIPMENT, CLASSIFICATION OF VISUAL AND MECHANICAL DEFECTS (19 JAN 1970)., This standard establishes the classification of defects for equipment, electronic, wired, and other devices, except for missile system equipment and additional specific requirements included in detailed specifications..